更新时间:2024-03-17
产品详情 TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局(NIST)使用TSI差分静电迁移率分析仪(DMA)对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术,在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径
高分辨率数据:高达167通道
1nm到1,000nm的极宽粒径范围
符合ISO 15900:2009标准
快速测量:<10s扫描
宽浓度范围,高达 10 7 颗粒/cm 3
给您zui大灵活度的组件设计
触摸屏控制无需电脑操作
免工具安装易于设置,自动发现组件
审慎的颗粒测量:适合多模样品
不依赖于粒子和流体的光学性质
宽系统配置选项:可选水介质或丁醇介质凝聚粒子计数器;可选传统的或无辐射中和器
纳米技术研究和材料合成
大气研究和环境检测
燃烧和发动机排放研究
室内空气质量测量
成核/凝结研究
吸入毒理学研究
包含组件
与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器
七款凝聚粒子计数器之一
Aerosol Instrument Manager?气溶胶仪器管理软件